你说拍完sem再拍AFM会不会对粗糙度有影响啊

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}

原理:电子束在样品表面扫描高能电子束与样品物质相互作用产生

的图像景深大,视野大只能提供

景深小,视野较小能提供

高度的测量。图像的纵向

能区分原子級表面变化,可计算出样品表面的粗糙度在

射线,获得样品成分的定性、

半定量甚至定量结果。

通过对样品的物理特性如硬度、弹性、摩擦力、粗糙度,磁场力导电

性,温度分布和材料表面组成等样品特性提供不同样品的成分信息。

样品制备非常简单工作区域選取非常盲目,而且工作区域非常有限只

能在微米尺度范围进行扫描,对较大样品表面进行扫描非常困难

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