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关于透射电子显微镜的一些问题
扫描电子衍射可以获得哪些信息
观察电子衍射斑可以区别组成相同，晶系可能不同的两种晶体吗
哪位大神有透射电子显微镜的资料，能不能发一份给我，我的邮箱
晚辈十分感谢！
我是专业做电镜的，你的问题很好回答。
选区电子衍射可以获得电子衍射图谱，根据图谱可以确定晶体结构、晶体取向等信息。
通过观察多个角度的电子衍射图谱，可以确定晶体结构，当然可以区分不同结构和晶系。
给你发个中文电子书吧。 : Originally posted by lomgi at
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给你 ... 谢谢，我的邮箱是 : Originally posted by lomgi at
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给你 ... 我做的是配位化合物。东西应该具有磁性，能做吗？ : Originally posted by kimi121 at
我做的是配位化合物。东西应该具有磁性，能做吗？... 只看结构应该可以，看磁畴不行。 : Originally posted by lomgi at
只看结构应该可以，看磁畴不行。
... 我想看出两种组成一样的晶体，晶系不同，他们的各向异性哪些不同，可以做这个吗，他们应该都具有磁性，做这个有影响吗？ : Originally posted by kimi121 at
我想看出两种组成一样的晶体，晶系不同，他们的各向异性哪些不同，可以做这个吗，他们应该都具有磁性，做这个有影响吗？... 很容易吧。 : Originally posted by lomgi at
我是专业做电镜的，你的问题很好回答。
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给你 ... 能给我发有关透射电子显微镜方面的中文电子书资料吗？谢谢 : Originally posted by lkynl at
能给我发有关透射电子显微镜方面的中文电子书资料吗？谢谢
... 你的邮箱？ : Originally posted by lomgi at
你的邮箱？... &&谢谢
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扫描电子显微镜和原子力显微镜表面观察的互补技术
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原子力显微镜布鲁克原子力显微镜 14:08:53咨询电话：010-原子力显微镜功能最强大、操作最便捷的原子力显微镜▲AFM 扫描模式及检测技术全套的AFM成像模式，满足各类应用和研究需求
使用布鲁克的原子力显微镜技术，研究材料纳米尺度上各类特性，需要可视化的获得样品的表面形貌或结构特征。但是，形貌表征只是利用AFM进行研究的其中一个重要部分。
在AFM常规测量模式——接触模式和轻敲模式的基础上，布鲁克开发出各种各样的新型扫描模式，测量材料的电学、磁学、力学、电化学等各项性质。
布鲁克创新型PeakForce Tapping技术代表了一类全新的基础扫描模式，作为最新一批检测模式的技术基础，可同时进行样品形貌、电学和机械性质表征。
除了测量样品的表面形貌特征，利用Bruker AFM技术，可以在一个AFM平台上，研究材料的各种性质。根据AFM型号的不同，除了该型号独特的检测功能，可配备多种工作模式，满足客户的不同实验需求。AFM基本测量模式经典的AFM成像模式，结合最新最全的扫描技术，精确高效地获得可靠数据纳米力学测量模式获悉具有纳米结构的各类分子、混合物的物理学性质Nanoelectrical表征模式一种多功能阵列的电气技术众多的应用专用模式先进的研究创新模式自动化系统模式高级模式精确，准确，自动化的原子力显微镜促进生命科学研究新突破
Bruker的BioScope(TM) Catalyst(TM) 原子力显微镜将成熟的光学显微镜技术与原子力显微镜的独特优势完美结合，并将二者的检测功能发挥到极致，成为测试高效、操作简便的生物型原子力显微镜，加速了生命科学领域创新性研究的进程。配备最新的ScanAsyst(TM)、PeakForce QNM(R) 、PeakForce Capture(TM) 等扫描模式的BioScope Catalyst是目前市场上AFM与光学显微镜集成化程度最高，最易使用的生物型原子力显微镜。▲AFM与光学显微镜的完美结合o实时监控软件可使光学图像精确地引导AFM扫描成像和力学测量，AFM成为光学显微镜的自然延伸。oBruker开发的MIRO软件，将AFM图像和光学图像完美结合，并且可以进行图像的离线后期处理，帮助您快速获得高质量实验数据。创新性设计提高仪器测量性能oScanAsyst(TM)和PeakForce(TM)等创新性设计保证了AFM的优异性能，不仅实现了AFM的高分辨率成像，还可以进行定量纳米力学性质测量o在这套系统中，还可以安装所有常规的共聚焦显微镜和光学显微镜配件，进行光学测量工作▲最易用且最高效的生物型原子力显微镜oBruker设计的探针安装支架和EasyAlign(TM)附件，简化更换探针和调节激光点的操作o新版软件中添加“Experiment Selector”功能，预先设置好常用模式和实验参数▲为生命科学研究提供简单有效的实验方案o样品可以固定在载玻片，盖玻片或者培养皿等常见基底上，非常容易地完成样品准备和检测任务o配备了微量液体池附件，控制样品用量，降低科研成本o配备控温培养皿灌流附件，精确控制实验温度，延长细胞存活时间，保证实验顺利完成原子力显微镜·布鲁克原子力显微镜简介·布鲁克原子力显微镜原理·BrukerDI原子力显微镜系统简介·原子力显微镜(AFM)工作模式·原子力显微镜技术背景资料
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原子力显微镜放大倍率校准的探讨
    本文通过各种标准物质样品在原子力显微镜上的实验性测试，对涉及原子力显微镜放大倍率校准的相关的标准物质、图像非线性、图像畸变、针尖效应的问题进行了探讨，并认为原子力显微镜在针尖效应还没有解决前，进行带有一定置信水平的不确定度的放大倍率校准还尚难实施。1.前言自从binnig等人于1982年研制成功世界上第一台扫描隧道显微镜，并因此获得诺贝尔物理奖后，bi俪g等人又于1986年研制成功了世界上第一台原子力显微镜。自那时起到现今，原子力显微镜(灯m)的发展已近二十年。许多世界上优秀的仪器制造商均生产着高质量的afm仪器，并不断改善这些产品的质量和增加各种新的功能。这些仪器在各个科研和应用领域发挥着越来越大的作用。上个世纪90年代以来，随着我国面向世界，改革开放的步伐加快和加入世界贸易组织，1509000系列等质量保证体系在我国各个企事业单位不断推广，越来越多的生产单位、科研单位要求它的产品质量、检测数据具有计量量值的溯源性和带有置信水平的不确定度。对于科学仪器的定期检测逐渐被带有不确定度的定期校验所替代。这样，原子力显微镜(afm)放大倍率的校准要求也像传统的显微镜一样被提出来了。为此我们对原子力显微镜(afm)的放大倍率校准问题进行了一些实验性研究。2.放大倍率的校准在显微镜测试中的重要性放大倍率在传统的光学显微镜、扫描电子显微镜、透射电子显微镜的测试数据中是唯一具有计量量值性质的参数值，也是使得显微镜的图像数据有科学性和可比性的重要参数。可以想像一幅未知病毒的图像，如果没有标注图像的放大倍率，我们将很难参照它去制订针对该病毒的有效措施。所以显微镜放大倍率的定期校验己成为各个现代企事业单位越来越常规的工作。但是，显微镜放大倍率的有效性是建立在整幅图像每个像素的二维几何尺寸的大小形状均匀一致、每个像素在图像平面的直角坐标系中的位置是固定而有序的基础上。因此，每一类显微镜的检定规程文件中都对图像的质量作了要求并规定了检定方法。如《扫描电子显微镜计量检定规程》规定了图像失真度的检定;《分析型扫描电子显微镜检定规程》规定了显像管中心与四角边缘处倍率误差的测定;《透射电子显微镜检定规程》规定了图像畸变量、样品污染和漂移速率的检定等。只有当显微镜的像质符合了这些检定规程中的要求，显微镜放大倍率的校准才对显微镜输出的图像数据是有效的，校准给出的不确定度才有实际意义。3.原子力显微镜放大倍率的校准问题原子力显微镜的输出数据中具有计量量值意义的有二个。一个是类似于传统光学显微镜和电子显微镜的二维平面尺寸的放大倍率，也就是扫描管的x、y方向的扫描范围。(如:500nmxso0nm、z&mxlpm、zopmx10pm等)这个扫描范围可以用国际上通用的有证可溯源的标准物质(例如:英国agar科学公司的2160线/mnl方格标准物质样品、美国spi公司的300nm全息光栅等。)进行溯源性校准。校准观察未知表面原子结构像的nm级扫描范围可用已知晶格间距的云母或其它晶体表面来校准。另一个是原子力显微镜具有很高的深度分辨力(z轴方向)，同时具有深度方向的可定量测试的能力。因此，用于深度定量溯源标准物质的台阶样品一直为国际上各标准物质制造机构所关注和研究。但目前尚无获得研制成功和商用产品的信息。另一方面，作为标准物质应是能够长期保持其计量特性的物质。可以预料，对于原子力显微镜如此高的深度分辨力，标准物质的表面防污染、防吸附、保持长久稳定性的要求将会使台阶标准物质样品的使用受到一些条件限制。4.影响原子力显微镜图像像质的几个因素由于原子力显微镜(afm)独特的成像方式，它的图像质量也受到一些不同于传统光学显微镜和电子显微镜的因素影响，主要有以下三个因素:1)图像非线性图像非线性有各种定义，美国标准物质制造商spi公司在它的标准物质使用说明书中定义:当任意给定一个确定的间隔距离值，仪器的输出图像在二个不同的图像位置给出不同的值，它们之间的差值除以这个给定的间隔距离值的百分比值即为图像这二点的非线性值。整幅图像的任意二间隔的最大百分比值即为整幅图像的非线性值。图像的非线性值会很大地影响原子力显微镜(afm)的成像质量。有的时候会使一幅图像中被成像的同样大小的.几何尺寸的样品图形，左边的大小和右边是不同的，也可能图像上方的放大倍率和下方的放大倍率相差很大。利用spi公司的等间隔全息光栅对原子力显微镜(afm)的检验，在图1中可很清晰地看到这种现象。另外，深度方向(z轴)的非线性也将大大地影响图像的真实性，如图2所示。原子力显微镜(afm)的制造厂商一般都会对仪器的非线性进行离线或在线的计算机校准。但有时还需要用户自己定期校准，图3是经过非线性校准的图像。2)图像畸变原子力显微镜(afm)的图像畸变并不像传统显微镜中心对称的桶形畸变或枕形畸变，而且传统显微镜的图像畸变只有在放大倍率很低时才一会影响到图像的质量。原子力显微镜(afm)的图像畸变可能发生在图像的任意部位，这使我们得到的图像是有畸变的、扭曲的。对于主要功能是测量未知样品表面形态的仪器，原子力显微镜(afm)主要是用于揭示微观世界的精确形态，如果它输出的图像信息不能准确的表征微观世界的真实形态，那对我们认识未知世界又有什么用呢?所以由于图形畸变对于甸一台通过出厂校准仪器还必须定期校准。3)针尖效应原子力显微镜(afm)探测物体表面是通过针一尖与被测物质表面的作用。例如:隧道电流、原子间的范德瓦尔斯力、磁场力等。但是，针-尖不可能无限细到只有一连串的原子，针尖还得按照固体物质的表面能保持最低以达到表面原子的平衡稳定状态。所以，针尖存在比较大的曲率半径。一般原子力显微镜比较好的氮化硅针尖的曲率半径为10nm左右。因此，原子力显微镜的针尖移动通过一个垂直方向(z轴)的高度与水平方向(x、y轴)的宽度的比值较大的表面凸出结构时，由于针尖达不到该凸出结构的底部边界而使我们得到的图像上得不到真实的边界，这个边界会有一定的展宽和不确定度。这个不确定度是针尖曲率半径和外形的函数，也是该凸出结构垂直方向(z轴)高度与水平方向(x、y轴)宽度比值的函数。虽然可以进行一些图像修正，但往往带来图像的失真，图4的标准粒子排列样品的中间裂缝处的边界一排粒子的边缘失真就是针尖效应所致。这也导致原子力显微镜更适合于观察垂直方向的高度与水平方向的宽度的比值较小的表面结构，例如晶格表面的原子排列像。(这正好与扫描电子显微镜相反，由于扫描电子显微镜的深度分辨力较差，所以它看不到原子像。)由于原子力显微镜的针尖效应的存在，所以当其观察普通有一定粗糙度的样品时，它得到的样品表面起伏边界将是不真实的。目前，原子力显微镜在常规iun一&m尺度的观察物体表面能力方面不能替代扫描电子显微镜的绝对优势地位，其针尖效应是一个重要原因。5.讨论回到我们最初的研究宗旨:原子力显微镜放大倍率校准的研究。我们现在能得出什么印象呢?l)原子力显微镜的像质(非线性程度、图像畸变程度)的技术规范制定是放大倍率校准有效性的先决条件。2)原子力显微镜水平方向的放大倍率的校准可以通过商用的校准样品用校准其扫描范围来校准整个图像的放大倍率，也可以在高倍时用晶格表面的已知结构间距的个数来校准扫描范围。3)垂直方向的校准，目前商用的标准物质样品还不能得到，暂时无法校准。但可以预料垂直方向的台阶标样将不是在任意的原子力显微镜的工作环境中都可以使用的。4)针尖效应不可避免的存在将使整幅图像(扫描范围)放大倍率的校准的不确定度评定变得难以实施。我们认为原子力显微镜在目前针尖效应没有解决前，进行水平方向(x、y轴)的带有一定置信水平的不确定度的放大倍率校准还难以实施，但用标准物质样品对扫描范围进行定值还是有意义的。参考文献[l1jjg55o一88《扫描电子显微镜计量检定规程》[2]jjgmo一1996《分析型扫描电子显微镜检定规程》[3]jjg011一1996《透射电子显微镜检定规程》tm[4]struetoreprobeineorporation，calibratorproinstruetionmanualver23，1996本文作者：盛克平丁听生/中国上海坝d试中心
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